LCD/PDPなどに代表される平面発光ディスプレイの点灯検査、またはガラス・フィルム・金属などのフラット面の傷・汚れ検査など、フラットなワークの表面検査に最適な検査装置です。
ファースト独自の画像処理技術を駆使し、低コントラストの点・線欠陥やシミ・ムラ欠陥を検出します。
作業者がワークの設置や画面を見ながら操作する半自動型、外部機器からの制御で動作するインライン型、複数台の装置で分散処理を行うマルチプロセス型があります。また200〜1000万画素カメラ対応機、ラインカメラ対応機、カラーカメラ対応機(現在カメラ対応をアナログからデジタル化へ移行開発中)が選択できます。
欠陥強調例
欠陥強調例(カラーカメラ対応版)
検査項目
●点(明画素・暗画素)欠陥検出
●線(明線・暗線)欠陥検出
●シミ・ムラ欠陥検出(ある程度の塊になったもの:上写真を参照)
●欠陥位置や欠陥サイズ等の計測
応用例
●フラットパネルディスプレイの総合欠陥検査に
●LCDやPDPの輝度ムラ欠陥検査に
●有機ELの点灯検査に
●ガラスやフィルムの傷・汚れ検査に
●金属表面の傷欠陥検査に
●その他平面物のシミ・ムラ欠陥検査に
標準機能
■ 欠陥検査 |
白点、黒点、白線、黒線、シミ、ムラ検査 |
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色空間変換処理(カラーカメラ対応版のみ) |
色空間変換(RGB,XYZ,HSV,YIQ,YUV,Lab)、色抽出処理 |
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前処理 |
前処理検査エリア抽出、シェーディング補正、コントラスト強調、繰り返しパターン除去 |
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各欠陥検査処理 |
フィルター(平均、最大、最小等全20種)、特徴量抽出フィルタ、2値化、2値画像処理、特徴量計算(欠陥座標、面積、濃度、周囲長等) |
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結果データ処理 |
座標変換、OK/NG判定(個数、面積、距離)、データ出力(画面、ファイル) |
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■ 連続検査 |
最大16画面(16種類)の連続検査 |
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■ 検査画像解析・補助 |
Aスコープ、投影、2値化、欠陥位置表示、ヒストグラム、検査エリア表示、画面拡大表示 |
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■ 外部通信 |
RS232C、DI/DO、LAN ※ソフトウェア対応は一部オプションになります。 |
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■ その他 |
オペレータ/管理者モード切替、画像ファイルのセーブ/ロード、検査内容のファイル出力、設定内容の印刷、DI/DOチェック画面 |
※標準版(STANDARD)、ラインセンサカメラ対応版(LIN)、カラーカメラ対応版(COLOR)の各商品タイプによって機能にいくつかの違いがあります。