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■MS-1000X-LW
(マイクロ・スクェア株式会社)


基板検査・BGA検査用マイクロスコープ
製品外観


【概 要】

MSシリーズは実装基板の目視検査を行うためのマイクロスコープです。BGA検査、QFP検査に抜群のマイクロスコープです。BGAの1列目や奥の半田部観察ができます。

広い視野での観察。倍率70倍。BGAピッチ0.8〜1.27に最適。
オプションのバックライトの併用により最大12mm奥までの観察が可能。ブリッジの検査、フィレット確認、ボールの位置ずれ、変形確認など。


【用途・特徴】

BGA、CSP、QFP半田検査用
半田ボールのフィレット形状検査、半田の溶け具合検査、クラック検査、半田不良検査、など従来X線検査では検査できない箇所の検査に最適です。
また、先端のプリズムにストレートプリズム(標準付属)を取り付けますと、QFPなどの表面実装部品の検査に最適です。斜めの角度から半田の溶け具合、半田の浮きなどが検査できます。


【サンプル動画】

※Flash動画はメーカーサイトにリンクしています。

バックライトシステム併用

QFP


【仕 様】

画素数 130万画素
接続 USB2.0
倍率 x70
フォーカス距離 約12mm


【構 成】

MS-1000Xシリーズ
スコープ本体
BGA観察用プリズム
QFP観察用プリズム
収納ケース


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