パルス電子ホームページ

AND OR
パルス電子は東京秋葉原を拠点に国内・海外に幅広く活動しています
HOME
映像機器
電子部品
光インターフェイス製品
外注・輸入業務

■BGAスコープ MS-1000A-EX
(マイクロ・スクェア株式会社)


BGAパッケージの半田(はんだ)接合検査をさらに充実!倍率可変タイプ
製品外観


【概 要】

70倍〜110倍の大きさ(20型モニター上)に無段階で倍率可変できる特長があります。BGA観察用のプリズムを使用し、BGAボールと基板との半田(はんだ)接合状態をパソコンモニター画面で拡大観察することができます。 低めの倍率で広い範囲を観察し、異常らしき部位があれば、倍率を上げて拡大観察することができるので、効率の良い検査ができます。
また、低めの倍率においては、オプションのバックライトシステム(BL-SYSTEM-01)を使用することにより、スコープの真向かいとなるBGAパッケージの反対側から照明を入れることができるので、内部のBGAボールのフィレット状態・位置ずれ・変形が影絵のようにシルエットとして観察できます。また、内部にブリッジがある場合は、バックライトの照明が遮断されるので、簡単に確認できます。
付属のQFP観察用プリズムを使用すれば、QFPパッケージのリードと基板との半田(はんだ)接合部をモニター画面で拡大観察できます。
ペン感覚で斜めから観察できるので、QFPのリードだけでなく、コンデンサーやスルーホール側面の観察もできます。
カメラ 200万画素CMOS
レンズ 固定倍率レンズ
倍率 (20型モニター上) 70倍〜110倍
接続 パソコン (USB2.0)
対応OS Windows 11,10,8,7
付属品 BGA観察用プリズム(2mm厚)
QFP観察用プリズム
ビュワーソフト、収納ケース
BGA観察用プリズムは厚さ2mm(標準),1mm,0.5mmをご用意しています。


【用 途】

・基板とBGA ボールとの接合状態確認
・BGAボールの変形確認
・実装の位置ずれ確認
・BGAボール同士のブリッジ確認
・BGA ボールの表面観察
・フラックス残の確認
・BGAパッケージとBGA ボールとの接合確認
・リワークを行った際の仕上がり確認
・量産前のBGA実装プロファイル設定や実装後の品質確認
・受託生産のための様々な仕様のBGAパッケージを検査する必要がある場合
・QFPリードの接合状態
・QFOリードの曲がり確認
・コンデンサーなどの実装部品の接合確認
・スルーホールの側面検査
バックライトシステム BL-SYSTEM-01(オプション)併用での主な用途--推奨の使用倍率は70倍
BGAパッケージ内の
・BGAボールのフィレット状態確認
・実装の位置ずれ確認
・BGAボールの同士のブリッジ確認
・フラックス残の確認


【サンプル画像(クリックすると拡大します)

観察方法
観察方法
BGA 110倍
BGA 110倍
BGA 110倍
BGA 110倍
BGA上部 110倍
BGA上部 110倍
バックライト 70倍
バックライト 70倍


【オプション(クリックすると拡大します)

バックライトシステム BL-SYSTEM-01
バックライトシステム BL-SYSTEM-01


各製品説明ページに記載された商品名、社名等は、各社の商標または登録商標です。
各製品説明ページの掲載事項は、予告なく変更されることがあります。
当ホームページの全部または一部の無断複製・転載を禁じます。
Copyright (C) 1999- PULSE Denshi Co., Ltd. All rights reserved.