パルス電子ホームページ

AND OR
パルス電子は東京秋葉原を拠点に国内・海外に幅広く活動しています
HOME
映像機器
電子部品
光インターフェイス製品
外注・輸入業務

■1x 4x テレセントリックレンズ VS-THV-SWIR シリーズ
(株式会社VSテクノロジー)


1"・1.1"対応テレセントリックレンズ
製品外観


光学倍率1.0x/1.5x/2.0x/3.0x/4.0xラインナップ
1.0x、1.5x、2.0xは1"対応、3.0x、4.0xは1.1"対応
1000 〜1600nmの透過率を高めたレンズ
全機種可変絞り対応で被写界深度の調整が可能


【透過率グラフ】

Y:Transmittance(%) X:Wave Length (nm)
透過率グラフ


【比較画像(同被写体 / 同シャッタースピードにて撮像)】

※被写体:ウエハー
バックライトで撮影
比較画像(同被写体 / 同シャッタースピードにて撮像)
VS-THV-SWIR
型式 光学倍率 WD(mm) NA 同軸落射照明 マウント
VS-THV1-110CO/S-SWIR 1.0x 111.1 0.048 Built-in C-Mount
VS-THV1.5-110CO/S-SWIR 1.5x 110.4 0.075
VS-THV2-110CO/S-SWIR 2.0x 110.4 0.100
VS-THV3-110CO/S-SWIR 3.0x 111.2 0.120
VS-THV4-110CO/S-SWIR 4.0x 110.4 0.130



■10x テレセントリックレンズ VS-TM-SWIRシリーズ
(株式会社VSテクノロジー)


2/3"対応光学倍率10xテレセントリックレンズ
製品外観


顕微鏡と同等の解像力
Long WD設計でワークとレンズの間の照明系の自由度が高い
900nm - 1500nmの透過率を高めたレンズ
VS-TM-SWIR
型式 光学倍率 WD(mm) NA 同軸落射照明 マウント
VS-TM10-55CO-SWIR 10x 55.3mm 0.230 Built-in C-Mount


【アプリケーション事例集】

シリコンウエハのアライメント
膜厚測定装置における測定前のシリコンウエハアライメントにおいて選定されたレンズとは?
詳細はこちら >>
シリコンウエハのアライメント
シリコンウエハ異物検査
シリコンウエハにかかれたパターン回路の異常、異物検査の精度を上げる為に選定された
レンズとは?
詳細はこちら >>
シリコンウエハ異物検査
ICチップ内の検査
ICチップの樹脂を透過して内部の異物や気泡などを検査したい。
課題解決の為に選んだ製品とは?
詳細はこちら >>
ICチップ内の検査


各製品説明ページに記載された商品名、社名等は、各社の商標または登録商標です。
各製品説明ページの掲載事項は、予告なく変更されることがあります。
当ホームページの全部または一部の無断複製・転載を禁じます。
Copyright (C) 1999- PULSE Denshi Co., Ltd. All rights reserved.